3D画像の超解像【AI論文】

計測分析機器のラボシーンでの利用に感売る生産高は約2300億円、輸出高は約1300億円だという。
そのうち、代表的な機器としては走査型電子顕微鏡(SEM)に関しては国内市場は130億円。ちなみに国内市場の8割は日本メーカーで占められている。

https://youtu.be/Mr9-1Sz_CK0

AI時代における研究開発でなくならないものの一つは、超高解像度の計測機器であろう。物理的に要件が満たされる機器でなければそもそもデータをとることすら叶わないからだ。

しかし逆に、AI技術の発展によってSEMが進化するという事案が発生した。

以下がその研究の要旨である。

3D画像の超解像

(Featured AI and materials) Deep-learning used for super-resolution of 3D images with time reduced FIB-SEM observation! (Publication)

K. Hagita, T. Higuchi and H. Jinnai, “Super-resolution for asymmetric resolution of FIB-SEM 3D imaging using AI with deep learning”. Scientific Reports8, 5877 (2018). について

DOI: 10.1038/s41598-018-24330-1

3つの要点

このコンテンツを閲覧するには無料会員ログインが必要です。会員の方はログインして下さい。
新規無料会員登録はこちら

PAGE TOP