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計測分析機器のラボシーンでの利用に感売る生産高は約2300億円、輸出高は約1300億円だという。
そのうち、代表的な機器としては走査型電子顕微鏡（SEM）に関しては国内市場は130億円。ちなみに国内市場の8割は日本メーカーで占められている。
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AI時代における研究開発でなくならないものの一つは、超高解像度の計測機器であろう。物理的に要件が満たされる機器でなければそもそもデータをとることすら叶わないからだ。
しかし逆に、AI技術の発展によってSEMが進化するという事案が発生した。
以下がその研究の要旨である。
3D画像の超解像
(Featured AI and materials) Deep-learning used for super-resolution of 3D images with time reduced FIB-SEM observation! (Publication)
K. Hagita, T. Higuchi and H. Jinnai, “Super-resolution for asymmetric resolution of FIB-SEM 3D imaging using AI with deep learning”. Scientific Reports, 8, 5877 (2018). について
３つの要点
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